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[41]
"프로세스-인-메모리 장치", 2026-09-23. (등록번호: KR 1030256050000)
[40]
"단위 메모리 셀 및 이를 포함하는 메모리 셀 어레이", 2020-12-30. (등록번호: KR 1021991430000)
[39]
"초저전압 메모리 장치 및 그 동작 방법", 2019-09-06. (등록번호: KR 1020216010000)
[38]
"반도체 메모리 장치", 2017-02-03. (등록번호: KR 1017051720000)
[37]
"SRAM", 2012-05-25. (등록번호: KR 1011525240000)
[36]
"반도체 메모리 소자", 2011-05-09. (등록번호: KR 1010351740000)
[35]
"고효율 승압회로", 2009-10-08. (등록번호: KR 1009219120000)
[34]
"표준 로직 공정용 승압회로", 2009-08-03. (등록번호: KR 1009113730000)
[33]
"이중 승압 셀 바이어스 기법을 이용한 스태틱 램", 2007-10-02. (등록번호: KR 1007654390000)
[32]

"피형 금속 산화막 반도체 게이팅 셀을 이용한 강유전체 메모리", 2007-05-02. (등록번호: KR 1007159790000)
[31]
"Boosting circuit of semiconductor memory device", 2003-09-02. (등록번호: US 6614292)
[30]

"Ferroelectric memory with bit-plate parallel architecture and operating method thereof", 2003-03-25. (등록번호: US 6538914)
[29] "반도체 메모리 장치의 부스팅 회로", 2002-05-17. (등록번호: KR 1003385480000)
[28]
"강유전체 메모리 셀들을 구비한 불휘발성 메모리 장치", 2001-08-14. (등록번호: KR 1003068230000)
[27]
"온-칩 테스트 회로를 구비한 강유전체 메모리장치", 2001-07-07. (등록번호: KR 1003030560000)
[26] "具有晶片上測試電路的鐵電記憶體元件 ", 2001-05-28. (등록번호: TW 436785)
[25]

"Methods of operating ferroelectric memory devices having reconfigurable bit lines", 2001-04-10. (등록번호: US 6215693)
[24]

"Variable test voltage circuits and methods for ferroelectric memory devices", 2000-08-25. (등록번호: US 6055200)
[23]

"Methods of operating ferroelectric memory devices having reconfigurable bit lines", 2000-08-01. (등록번호: US 6097624)
[22]

"Ferroelectric random access memory device and method for operating the same", 2000-07-11. (등록번호: US 6088257)
[21] "鐵電記憶體裝置與其資料保護方法", 2000-07-11. (등록번호: TW 397981)
[20] "鐵電隨機存取記憶體元件及其操作方法", 2000-06-21. (등록번호: TW 394943)
[19]

"オン-チップテスト回路を備えた强 誘電體メモリ裝置", 2000-05-30.
(등록번호: JP 2000149596)
[18]
"강유전체 메모리장치 및 그것의 데이터 보호 방법", 2000-02-17. (등록번호: KR 1002559560000)
[17]

"Non-volatile ferroelectric memory with section plate line drivers and method for accessing the same", 1999-11-23. (등록번호: US 5991188)
[16]

"具有區段板線驅動器之非揮發性鐵電記憶體及其資料存取方法", 1999-11-11. (등록번호: TW 374164)
[15]

"Ferroelectric memory devices having reconfigurable bit lines and methods of operating same", 1999-11-02. (등록번호: US 5978250)
[14]

"강유전체 랜덤 엑세스 반도체 메모리장치 및 그 동작 방법", 1999-09-20. (등록번호: KR 1002348770000)
[13]

"Ferroelectric memory device and data protection method thereof", 1999-08-24. (등록번호: US 5943257)
[12] "불휘발성 강유전체 메모리장치 및 그의 구동방법", 1999-07-15. (등록번호: KR 1002246730000)
[11] "불휘발성 반도체 메모리장치", 1999-07-05. (공개번호: KR 1019990047442)
[10] "强誘電體メモリ裝置及びそのデㅡタ保護方法", 1999-03-30. (등록번호: JP 11086566)
[09] "고속동작을 위한 감지증폭 회로", 1999-03-15. (공개번호: KR 1019990018933)
[08] "不揮發性メモリ裝置及びその記入方法", 1998-12-22. (등록번호: JP 10340588)
[07]

"强誘電體ランダムアクセス半導體メモリ裝置及びその動作方法", 1998-09-25. (등록번호: JP 10255484)
[06]
"강유전체 반도체 메모리장치의 기준전압 발생회로", 1998-08-17. (공개번호: KR 1019980040804)
[05] "不揮發性强誘電體メモリ裝置及びその驅動方法", 1998-07-21. (등록번호: JP 10188575)
[04]

"Nichtfluechtiges ferroelektrisches speicherbauelement und ansteuerverfahren hierfuer", 1998-06-18. (등록번호: DE 19732694)
[03] "A nonvolatile ferroelectric memory device", 1998-06-17. (등록번호: GB 2320377)
[02]

"전압승압회로를 이용한 스태틱 램의 데이터 출력 구동기", 1998-05-06. (등록번호: KR 1002117640000)
[01] "非依電性鐵電記憶體元件及其驅動方法", 1998-03-21. (등록번호: TW 328589)
 
 
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